Titre de la production :20th IFAC World Congress Année de production :2017 Langue de la production :Anglais Production réalisée au laboratoire :Oui Mots-clés :Atomic Force Microscope ; AFM ; Education ; Control ; Nanotechnology ; Piezoelectric Sensing
Titre de la communication :20th IFAC World Congress Type de communication :Communication orale
Type de l'événement :Conférence Nom complet de l'événement :20th IFAC World Congress Nom abrégé de l'événement :20th IFAC World Congress Date de début :09/07/2017 Date de fin :14/07/2017 Ville de l'événement :Toulouse Pays de l'événement :France Audience de l'événement :Audience scientifique internationale
Titre de l'article :20th IFAC World Congress Type de l'extrait :Acte de conférence Nombre total de pages :6
Titre du recueil :20th IFAC World Congress Type de recueil :E-Library Comité de lecture :Oui Référencement Web Of Science :Oui Référencement Scopus :Oui Audience du recueil :Audience scientifique internationale Maison d'édition du recueil :IFAC - Toulouse, France