Titre de la production :On the optimal choice of wavelet function for multiscale honed surface characterization Année de production :2011 Langue de la production :Anglais Production réalisée au laboratoire :Oui Domaines scientifiques :SPI:MAT - Matériaux Mots-clés :Analysis results ; Comparative studies ; Continuous Wavelet Transform ; Honed surfaces ; Morlet Wavelet ; Multi-scale Decomposition ; Multiscale surface ; Multiscales ; Multistage process ; Optimal choice ; Power tools ; Regularity properties ; Wavelet analysis method ; Wavelet basis functions ; Wavelet function
Titre de la communication :On the optimal choice of wavelet function for multiscale honed surface characterization Type de communication :Communication orale
Type de l'événement :Conférence Nom complet de l'événement :13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces Nom abrégé de l'événement :Met&Prop Date de début :12/04/2011 Date de fin :15/04/2011 Ville de l'événement :Londres Pays de l'événement :Royaume-Uni Audience de l'événement :Audience scientifique internationale
Titre de l'article :On the optimal choice of wavelet function for multiscale honed surface characterization Type de l'extrait :Acte de conférence DOI :.1088/1742-6596/311/1/012025 Page de début :1 Page de fin :5 Nombre total de pages :5
Titre du recueil :Proceedings 13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces Type de recueil :Journal de Proceedings Collection :Journal of Physics - Conference Series Comité de lecture :Oui Référencement Web Of Science :Non Référencement Scopus :Oui Audience du recueil :Audience scientifique internationale Maison d'édition du recueil :IOP Publishing - Bristol, Royaume-Uni